Ultrafast Scanning Atomic Force Microscope

DTU Physics has a group investigating the interaction of materials with solutions and gases, in the presence and absence of organic compounds. The work aims to understand and control reactions such as dissolution of the materials and the nucleation of secondary phases on the solid surfaces. For this work, we need an atomic force microscope, that is flexible, to allow developments in hardware and software. We require ultrafast scanning, as well as the classical slow and fast scanning, because many of the reactions are rapid. Routine atomic scale resolution is essential, as well as micrometre scale mapping, with a number of approaches that are available using a rapidly oscillating cantilever, including chemical force mapping. Fluid and gas cells, control of temperature and humidity will allow in situ experiments. Reliability of operation and cooperative arrangements for instrument and software modification, repair and maintenance are important.

26-4-2022 10:00:00

38000000-5  Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen)
38300000-8  Instrumenten voor metingen
38340000-0  Instrumenten voor het meten van hoeveelheden
38400000-9  Instrumenten voor het controleren van fysische eigenschappen
38430000-8  Detectie- en analyseapparatuur
38432000-2  Analyseapparatuur
38500000-0  Controle- en testapparatuur
38510000-3  Microscopen
38512000-7  Ionen- en moleculaire microscopen
38512200-9  Monoculaire microscopen
38514000-1  Donkerveld- en rastersondemicroscopen
38514200-3  Rastersondemicroscopen (SPM)
38519000-6  Diverse toebehoren voor microscopen
38519300-9  Foto- of video-opzetstukken voor microscopen
38540000-2  Machines en toestellen voor testen en meten


Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Anker Engelunds Vej 1
2800
Kgs. Lyngby
Denemarken
Bekijk dit profiel

Katrine Freiesleben Petersen
https://www.dtu.dk

Aankondigingen
Aankondiging van een opdracht (TED (v209)) 18-3-2022 12:26
Aankondiging van een gegunde opdracht (TED (v209)) 28-6-2022 14:11
Percelen
Ultrafast Scanning Atomic Force Microscope
Inhoud:
Documenten Documenten
Sluiten