Automatic Probe Station

DTU is purchasing an automatic probe station for testing silicon integrated photonic circuits. The system is to be used for characterization of silicon-on-insulator chips and wafers. The probe station should be programmable to automatically align and test using electrical and optical probes on a sequence of several devices on the same sample.

14/12/2020 11:59:00 μμ

38900000-4  Ποικίλα όργανα εκτιμήσεων ή δοκιμών
38000000-5  Εξοπλισμός εργαστηριακός, οπτικός και ακριβείας (εκτός από γυαλιά)
38300000-8  Όργανα μετρήσεων
38636000-2  Ειδικά οπτικά όργανα